電子產(chǎn)品的可靠性試驗指標(biāo)

    大量統(tǒng)計資料證明：電子設(shè)備產(chǎn)品的失效分布一般服從指數(shù)分布。從電子設(shè)備產(chǎn)品及許多電子元器件的失效機理來看，隨著時間的足夠長，失效率趨近于一個穩(wěn)定值，其基本特征可以用指數(shù)函數(shù)的曲線相比擬， 即服從指數(shù)分布，因此電子設(shè)備產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)有：可靠度 R(t)：

累積失效概率F(t)：失效密度函數(shù)f(t)：平均故障間隔時間MTBF:   

   由上可看出在指數(shù)分布時產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)表示式比較簡單，并且失效率λ是一個常數(shù)。在進行電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性分析時，只要得到λ的數(shù)值，其它指標(biāo)就可以直接算出來。