的數(shù)據(jù)分析與處理 

可靠性試驗(yàn)的數(shù)據(jù)分析方法

    可靠性試驗(yàn)的數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)就是產(chǎn)品壽命分布函數(shù)及參量之間的關(guān)系。例如故障與應(yīng)力（電、熱、振動(dòng)、溫度等）的對應(yīng)關(guān)系；故障與產(chǎn)品早期性能變化的規(guī)律等，這些包含有兩個(gè)變量的數(shù)據(jù)，在分析時(shí)就可用相關(guān)及回歸分析方法，或用最小二乘法，從試驗(yàn)中取得的數(shù)據(jù)，可以制成各種圖，如直方圖，拆線圖等，擬合成直線、曲線用以確定產(chǎn)品故障（壽命）的數(shù)學(xué)模型，由模型就可寫出其可靠性指標(biāo)，最后推算出該產(chǎn)品的可靠性參數(shù)值。 

電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理

    可靠性試驗(yàn)的數(shù)據(jù)是一些實(shí)際的、多因素的信息集體，對于電子設(shè)備產(chǎn)品來說，試驗(yàn)的目的不同，所需采集的數(shù)據(jù)種類就不同，因此要用試驗(yàn)的觀測值來估計(jì)設(shè)備的可靠性特征值，這是電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)處理的關(guān)鍵。我們知道MTBF是衡量電子產(chǎn)品可靠性的一個(gè)重要指標(biāo)，并且檢驗(yàn)下限應(yīng)等于電子設(shè)備產(chǎn)品可接受的MTBF。實(shí)際工作中常采用觀測值的點(diǎn)估計(jì)即：