久久久久久久久久久久久久久久久-久久久久久久久久久久久久久久久久-久久久久久久久久久视频国内精品视频-久久久久久久久久毛片精品美女-波多野结衣3女同在线观看-波多野结衣aⅴ在线

可靠性試驗設備行業新的調研與市場投資戰略研究報告2014-2018年報告目錄 第一章可靠性試驗設備行業概述 第一節可靠性試驗設備產品概述 一、定義 二、可靠性試驗設備的主要細分產品 三、可靠性試驗設備的應用領域 第二節可靠性試驗設備行業屬性及國民經濟地位

可靠性試驗芯片封裝失效分析的意義 電子元器件的失效是指產品不能正常的工作或者工作時的電學性能和物理參數不能達到預期的標準。它與器件的可靠性是一對相對的概念。產品的失效按不同的劃分標準分可以分為很多種。雖然失效的種類很多，但是他們的共同之處就

可靠性試驗常用的顯微分析技術 1．光學顯微鏡分析技術 光學顯微鏡是進行電子元器件，集成電路失效分析的主要工具之一。在失效分析中使用的顯微鏡主要有立體顯微鏡和金相顯微鏡。立體顯微鏡大放大倍數較低，從幾倍到上百倍都有，但景深大；金相顯微鏡的放大倍

可靠性試驗失效分析中的破壞性物理分析和顯微分析方法 集成電路產的另外一個名字是微電子。從這點可以看出集成電路是在很小的尺寸上進行產生的。短短十年之間，微電子器件的尺寸從原來的微米量級逐步縮小，到亞微米，深亞微米，再到今天的納米量級。隨之變化

可靠性試驗封裝失效分析的流程 為了提高微電子產品的可靠性，就應研究生產封裝失效的原因。通過失效模式的確定，深入分析失效的機理，討論并提出防止失效的方法。所以失效分析的一般路程： 1．數據的收集與分析。在完成現場失效數據收集報告和使用者報告后，